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邏輯 - 專用邏輯
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SN74ABT8543DWG4 SN74ABT8543DWG4 Texas Instruments 28-SOIC 8,020 - 廠方庫(kù)存 75.758 IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC <%# Eval("ProdName")%>_PDF
SN74ABT8952DWE4 SN74ABT8952DWE4 Texas Instruments 28-SOIC 4,520 - 廠方庫(kù)存 75.758 IC SCAN TESST DEVICE 28-SOIC <%# Eval("ProdName")%>_PDF
SN74ABT8652DWE4 SN74ABT8652DWE4 Texas Instruments 28-SOIC 1,200 - 廠方庫(kù)存 75.758 IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC <%# Eval("ProdName")%>_PDF
SN74ABT8543DWE4 SN74ABT8543DWE4 Texas Instruments 28-SOIC 8,020 - 廠方庫(kù)存 75.758 IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC <%# Eval("ProdName")%>_PDF
SN74ABTE16245DLG4 SN74ABTE16245DLG4 Texas Instruments 48-SSOP 1,925 - 廠方庫(kù)存 75.110 IC 16BIT I-WS BUS TXRX 48-SSOP <%# Eval("ProdName")%>_PDF
SN74ABT18245ADLG4 SN74ABT18245ADLG4 Texas Instruments 56-SSOP 5,600 - 廠方庫(kù)存 72.520 IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP <%# Eval("ProdName")%>_PDF
SN74BCT8373ANTE4 SN74BCT8373ANTE4 Texas Instruments 24-PDIP 780 - 廠方庫(kù)存 70.315 IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP <%# Eval("ProdName")%>_PDF
SN74BCT8244ANTE4 SN74BCT8244ANTE4 Texas Instruments 24-PDIP 900 - 廠方庫(kù)存 70.315 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP <%# Eval("ProdName")%>_PDF
SN74FB2033ARCRG3 SN74FB2033ARCRG3 Texas Instruments 52-QFP（10x10） 500 - 廠方庫(kù)存 69.629 IC REGISTERED TXRX 8BIT 52QFP <%# Eval("ProdName")%>_PDF
SN74ABT8646DLG4 SN74ABT8646DLG4 Texas Instruments 28-SSOP 800 - 廠方庫(kù)存 69.598 IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP <%# Eval("ProdName")%>_PDF
SN74BCT8245ADWG4 SN74BCT8245ADWG4 Texas Instruments 24-SOIC 3,350 - 廠方庫(kù)存 67.340 IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC <%# Eval("ProdName")%>_PDF
SN74BCT8245ADWE4 SN74BCT8245ADWE4 Texas Instruments 24-SOIC 3,350 - 廠方庫(kù)存 67.340 IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC <%# Eval("ProdName")%>_PDF
SN74BCT8245ADW SN74BCT8245ADW Texas Instruments 24-SOIC 3,350 - 廠方庫(kù)存 67.340 IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC <%# Eval("ProdName")%>_PDF
SN74ABT8996PW SN74ABT8996PW Texas Instruments 24-TSSOP 4,440 - 廠方庫(kù)存 64.750 IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24TSSOP <%# Eval("ProdName")%>_PDF
SN74BCT8374ADWG4 SN74BCT8374ADWG4 Texas Instruments 24-SOIC 2,075 - 廠方庫(kù)存 62.423 IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC <%# Eval("ProdName")%>_PDF
SN74BCT8374ADWE4 SN74BCT8374ADWE4 Texas Instruments 24-SOIC 2,075 - 廠方庫(kù)存 62.423 IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC <%# Eval("ProdName")%>_PDF
SN74BCT8373ADWG4 SN74BCT8373ADWG4 Texas Instruments 24-SOIC 775 - 廠方庫(kù)存 62.422 IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC <%# Eval("ProdName")%>_PDF
SN74BCT8240ADWG4 SN74BCT8240ADWG4 Texas Instruments 24-SOIC 200 - 廠方庫(kù)存 62.422 IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC <%# Eval("ProdName")%>_PDF
SN74BCT8373ADWE4 SN74BCT8373ADWE4 Texas Instruments 24-SOIC 775 - 廠方庫(kù)存 62.422 IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC <%# Eval("ProdName")%>_PDF
SN74BCT8373ADW SN74BCT8373ADW Texas Instruments 24-SOIC 775 - 廠方庫(kù)存 62.422 IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC <%# Eval("ProdName")%>_PDF